1、HALT 

HALT共分為四個(gè)主要過程，即：   
●  溫度應(yīng)力； 
●  高速溫度傳導(dǎo)；
●  隨機(jī)振動；
●  溫度及振動合并應(yīng)力。
 
在HALT試驗(yàn)中可找到被測物在溫度及振動應(yīng)力下的可操作界限與破壞界限。此實(shí)驗(yàn)所用設(shè)備為高加速壽命試驗(yàn)機(jī)，溫度范圍為-100℃～+200℃，溫度變化最大速率為60℃/min，最大加速度可到100Grms，而且振動機(jī)與溫度箱合二為一的設(shè)計(jì)可同時(shí)對被測物施加溫度與振動應(yīng)力。以下就四個(gè)過程的一般情況分別加以說明：   
 
1）溫度應(yīng)力（高低溫試驗(yàn)箱） 
此項(xiàng)試驗(yàn)分為低溫及高溫兩個(gè)階段應(yīng)力。首先執(zhí)行低溫階段應(yīng)力，設(shè)定起始溫度為20℃，每階段降溫10℃，階段溫度穩(wěn)定后維持10min，之后在階段穩(wěn)定溫度下執(zhí)行至少一次的功能測試，如一切正常則將溫度再降10℃，并待溫度穩(wěn)定后維持10min再執(zhí)行功能，依此類推直至發(fā)生功能故障，以判斷是否達(dá)到操作界限或破壞界限；在完成低溫應(yīng)力試驗(yàn)后，可依相同程序執(zhí)行高溫應(yīng)力試驗(yàn)，即將綜合環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)機(jī)自20℃開始，每階段升溫10℃，待溫度穩(wěn)定后維持10min，而后執(zhí)行功能測試直到發(fā)現(xiàn)高溫操作界限及高溫破壞界限為止。
 
2）高速溫度傳導(dǎo)   
此項(xiàng)試驗(yàn)將先前在溫度階段應(yīng)力測試中所得到的低溫及高溫操控界限作為此處的高低溫度界限，并以每分鐘60℃/min在此測試溫度區(qū)域內(nèi)進(jìn)行6個(gè)循環(huán)的高低溫度變化。在每個(gè)循環(huán)的最高溫度及最低溫度都要停留10min，并使溫度穩(wěn)定后再執(zhí)行功能測試。檢查待測物是否發(fā)生可回復(fù)性故障，尋找其可操作界限。在此試驗(yàn)中不需尋找破壞界限。   
 
3）隨機(jī)振動（振動試驗(yàn)機(jī)）   
此項(xiàng)試驗(yàn)是將G值自5g開始，且每階段增加5g，并在每個(gè)階段維持10min后在振動持續(xù)的條件下執(zhí)行功能測試，以判斷其是否達(dá)到可操作界限或破壞界限。  
 
4）溫度及振動合并應(yīng)力（溫度濕度振動三綜合試驗(yàn)機(jī)）
此項(xiàng)試驗(yàn)將高速溫度傳導(dǎo)及隨機(jī)振動測試合并同時(shí)進(jìn)行，使加速老化的效果更加顯著。此處使用先前的快速溫變循環(huán)條件及溫變率，并將隨機(jī)振動自5g開始配合每個(gè)循環(huán)遞增5g，且使每個(gè)循環(huán)的最高及最低溫度持續(xù)10min，待溫度穩(wěn)定后執(zhí)行功能測試，如此重復(fù)進(jìn)行直至達(dá)到可操作界限及破壞界限為止。   
對在以上四個(gè)測試程序中被測物所產(chǎn)生的任何異常狀態(tài)進(jìn)行記錄，分析是否可由更改設(shè)計(jì)克服這些問題，加以修改后再進(jìn)行下一步驟的測試。通過提高產(chǎn)品的可操作界限及破壞界限，從而達(dá)到提升可靠性的目的。
 
2、HASS 
應(yīng)用HASS的目的是要在極短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)批量生產(chǎn)的成品是否存在生產(chǎn)質(zhì)量上的隱患，該試驗(yàn)包括三個(gè)主要試程：   
●  HASS Development （HASS試驗(yàn)計(jì)劃階段）
●  Proof-of-Screen（計(jì)劃驗(yàn)證階段）
●  Production HASS（HASS執(zhí)行階段）
 
以下就一般電子產(chǎn)品的測試過程分別加以說明：   
 
1）HASS Development（HASS試驗(yàn)計(jì)劃階段）
HASS試驗(yàn)計(jì)劃必須參考前面HALT試驗(yàn)所得到的結(jié)果。一般是將溫度及振動合并應(yīng)力中的高、低溫度的可操作界限縮小20％，而振動條件則以破壞界限G值的50％作為HASS試驗(yàn)計(jì)劃的初始條件。然后再依據(jù)此條件開始執(zhí)行溫度及振動合并應(yīng)力測試，并觀察被測物是否有故障出現(xiàn)。如有故障出現(xiàn)，須先判斷是因過大的環(huán)境應(yīng)力造成的，還是由被測物本身的質(zhì)量引起的。屬前者時(shí)應(yīng)再放寬溫度及振動應(yīng)力10%再進(jìn)行測試，屬后者時(shí)表示目前測試條件有效。如無故障情況發(fā)生，則須再加嚴(yán)測試環(huán)境應(yīng)力10%再進(jìn)行測試。
 
2）Proof-of-Screen（計(jì)劃驗(yàn)證階段）
在建立HASS Profile（HASS 程序）時(shí)應(yīng)注意兩個(gè)原則：首先，須能檢測出可能造成設(shè)備故障的隱患；其次，經(jīng)試驗(yàn)后不致造成設(shè)備損壞或"內(nèi)傷"。為了確保HASS試驗(yàn)計(jì)劃階段所得到的結(jié)果符合上述兩個(gè)原則，必須準(zhǔn)備3個(gè)試驗(yàn)品，并在每個(gè)試品上制作一些未依標(biāo)準(zhǔn)工藝制造或組裝的缺陷，如零件浮插、空焊、及組裝不當(dāng)?shù)取Ｒ訦ASS試驗(yàn)計(jì)劃階段所得到的條件測試各試驗(yàn)品，并觀察各樣品上的人造缺陷是否能被檢測出來，以決定是否加嚴(yán)或放寬測試條件，而能使HASS Profile達(dá)到預(yù)期效果。   
在完成有效性測試后，應(yīng)再以新的試驗(yàn)品，以調(diào)整過的條件測試30～50次，如未發(fā)生因應(yīng)力不當(dāng)而被破壞的現(xiàn)象，此時(shí)即可判定HASS Profile通過計(jì)劃驗(yàn)證階段測試，并可作Production HASS之用。反之則須再檢討，調(diào)整測試條件以求獲得最佳的組合。 
 
3）Production HASS （HASS執(zhí)行階段）  
任何一個(gè)經(jīng)過Proof-of-Screen考驗(yàn)過的HASS Profile皆被視為快速有效的質(zhì)量篩選利器，但仍須配合產(chǎn)品經(jīng)客戶使用后所回饋的異常再做適當(dāng)?shù)恼{(diào)整。另外，當(dāng)設(shè)計(jì)變更時(shí)，亦相應(yīng)修改測試條件。